已200G QSFPDD PSM8为例，梳理下测试光模块性能指标和测试方法：
1. Management Timing performance
1.1 IntL Assert Time
测试要求：需要测试的时间是光模块在Rx光信号丢失也就是RX LOS比特位置1和中断IntL由高拉低的时间。
测试方法：将光模块插入测试板中，使用示波器两个探头，一个接测试板上的SDA脚，一个点击测试板上的INTL点，使用对应的GUI将其他标志mask后去掉需要断开通道的RX LOS的mask勾选再读取page11h，0x93这一个地址的值，此时测试板上IntL灯灭（IntL高电平），再将RX光纤连接的一个通道断开，读取0x93地址触发SDA，此时测试板上IntL灯亮（IntL低电平）报RX LOS触发IntL。
测试结果:
| SN | Result(ms) | SPEC [ms] | Pass/Fail |
| RT | |||
| 200G QSFPDD PSM-001 | 51.872 | 200 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-002 | 30.334 | 200 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-003 | 102.956 | 200 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-004 | 87.031 | 200 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-005 | 126.615 | 200 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-006 | 25.258 | 200 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-007 | 88.626 | 200 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-008 | 23.065 | 200 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-009 | 100 | 200 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0010 | 101.916 | 200 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0011 | 140.224 | 200 | Pass |
测试图片:
1.2 IntL Deassert Time
测试要求：需要测试的时间是光模块在Rx光信号恢复和中断IntL由低到高的时间。
测试方法：将光模块插入测试板中，使用示波器两个探头，一个接测试板上的SDA脚，一个点击测试板上的INTL点，使用对应的GUI将其他标志mask后去掉需要断开通道的RX LOS的mask勾选再读取page11h，0x93这一个地址的值，此时测试板上IntL灯亮（IntL低电平），再将RX光纤断开的一个通道连接，读取0x93地址触发SDA，此时测试板上IntL灯灭（IntL高电平）将RX恢复信号触发IntL。
测试结果:
| SN | Result(us) | SPEC [us] | Pass/Fail |
| RT | |||
| 200G QSFPDD PSM-001 | 267.321 | 500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-002 | 214.658 | 500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-003 | 229.022 | 500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-004 | 141.875 | 500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-005 | 143.870 | 500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-006 | 141.875 | 500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-007 | 140.279 | 500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-008 | 140.279 | 500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-009 | 141.077 | 500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0010 | 142.274 | 500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0011 | 141.476 | 500 | Pass |
测试图片:
1.3 Rx LOS Assert Time
测试要求：需要测试的时间是光模块在在检测到光信号丢失后，将Rx-LOS位设置为1并将IntL拉低所花费的时间。
测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器将需要测试的一个通道的接收端接入到分光器的OUT，拔分光器的IN端进行触发。
测试结果:
| SN | Result(ms) | SPEC [ms] | Pass/Fail |
| RT | |||
| 200G QSFPDD PSM-001 | 36.076 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-002 | 34.796 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-003 | 20.886 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-004 | 33.9 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-005 | 33.501 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-006 | 22.528 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-007 | 21.011 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-008 | 33.461 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-009 | 16.543 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0010 | 26.917 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0011 | 31.067 | 100 | Pass |
测试图片:
1.4 TX Squelch Assert Time
测试要求：需要测试的时间是光模块从Tx输入信号丢失到squelched输出条件达到的时间。
测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器，将需要测试通道的发射端接入分光器的OUT（light_out），使用示波器两个探头，一个接测试板上的SDA脚，一个连接分光器，点击GUI中的Ctrl页的TX Force Squlch功能对应的测试通道（勾选此功能）进行触发。
测试结果:
| SN | Result(ms) | SPEC [ms] | Pass/Fail |
| RT | |||
| 200G QSFPDD PSM-001 | 10.718 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-002 | 22.014 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-003 | 30.794 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-004 | 28.633 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-005 | 33.94 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-006 | 6.726 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-007 | 29.072 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-008 | 23.246 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-009 | 19.176 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0010 | 26.997 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0011 | 21.889 | 400 | Pass |
测试图片:
1.5 Tx Squelch Deassert Time
测试要求：需要测试的时间是光模块从Tx输入信号恢复到达到正常Tx输出状态的时间。
测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器，将需要测试通道的发射端接入分光器的OUT（light_out），使用示波器两个探头，一个接测试板上的SDA脚，一个连接分光器，点击GUI中的Ctrl页的TX Force Squlch功能对应的测试通道（去掉勾选此功能）进行触发。
测试结果:
| SN | Result(ms) | SPEC [ms] | Pass/Fail |
| RT | |||
| 200G QSFPDD PSM-001 | 17.565 | 1500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-002 | 11 | 1500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-003 | 18.662 | 1500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-004 | 25.681 | 1500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-005 | 10.358 | 1500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-006 | 15.864 | 1500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-007 | 7.397 | 1500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-008 | 9.153 | 1500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-009 | 34.532 | 1500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0010 | 27.349 | 1500 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0011 | 18.571 | 1500 | Pass |
测试图片:
1.6 Tx Disable Assert Time
测试要求：需要测试的时间是光模块从Tx禁用位清除到0到光输出超过标称的90%的时间。
测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器，将需要测试通道的发射端接入分光器的OUT（light_out），使用示波器两个探头，一个接测试板上的SDA脚，一个连接分光器，点击GUI中的Ctrl页的TX Disable功能对应的测试通道（勾选此功能）进行触发。 测试结果:
| SN | Result(ms) | SPEC [ms] | Pass/Fail |
| RT | |||
| 200G QSFPDD PSM-001 | 20.579 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-002 | 35.263 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-003 | 30.315 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-004 | 5.642 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-005 | 36.089 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-006 | 34.213 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-007 | 10.032 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-008 | 16.775 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-009 | 16.775 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0010 | 6.28 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0011 | 14.181 | 100 | Pass |
测试图片:
1.7 TX Disable Deassert Time
测试要求：需要测试的时间是光模块从Tx禁用位设置为1到光输出低于标称值的10%的时间。
测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器，将需要测试通道的发射端接入分光器的OUT（light_out），使用示波器两个探头，一个接测试板上的SDA脚，一个连接分光器，点击GUI中的Ctrl页的TX Disable功能对应的测试通道（去掉勾选此功能）进行触发。 测试结果:
| SN | Result(ms) | SPEC [ms] | Pass/Fail |
| RT | |||
| 200G QSFPDD PSM-001 | 15.951 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-002 | 40.849 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-003 | 13.396 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-004 | 36.248 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-005 | 6.4 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-006 | 5.522 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-007 | 21.244 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-008 | 20.805 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-009 | 31.18 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0010 | 20.965 | 400 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0011 | 17.293 | 400 | Pass |
测试图片:
1.8 RX Output Disable Assert Time
测试要求：需要测试的时间是光模块从Rx输出禁用位清除到0，直到Rx输出超过标称值的90%的时间。
测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器，将需要测试通道的发射端接入分光器的OUT，使用示波器两个探头，一个接测试板上的SDA脚，一个连接测试板上RX信号的中心点上（RX_DATA_OUT），点击GUI中的Ctrl页的RX Output Disable功能对应的测试通道（勾选此功能）进行触发。 测试结果:
| SN | Result(ms) | SPEC [ms] | Pass/Fail |
| RT | |||
| 200G QSFPDD PSM-001 | 16.064 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-002 | 11.164 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-003 | 9.757 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-004 | 13.303 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-005 | 7.158 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-006 | 7.996 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-007 | 7.741 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-008 | 3.096 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-009 | 4.564 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0010 | 4.245 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0011 | 1.532 | 100 | Pass |
测试图片:
1.9 RX Output Disable Deassert Time
测试要求：需要测试的时间是光模块从Rx输出禁用位设置为1到Rx输出降到额定值的10%以下的时间。
测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器，将需要测试通道的发射端接入分光器的OUT，使用示波器两个探头，一个接测试板上的SDA脚，一个连接测试板上RX信号的中心点上（RX_DATA_OUT），点击GUI中的Ctrl页的RX Output Disable功能对应的测试通道（去掉勾选此功能）进行触发。 测试结果:
| SN | Result(ms) | SPEC [ms] | Pass/Fail |
| RT | |||
| 200G QSFPDD PSM-001 | 4.893 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-002 | 16.513 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-003 | 11.574 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-004 | 7.597 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-005 | 9.353 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-006 | 5.961 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-007 | 6.36 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-008 | 6.12 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-009 | 8.036 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0010 | 11.866 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0011 | 6.12 | 100 | Pass |
测试图片:
1.10 Mask Assert Time
测试要求：需要测试的时间是光模块从各标志的掩码位集设置为1直到IntL中断由低变高的时间。
测试方法：光模块插入测试板中，使用示波器两个探头，一个接测试板上的SDA脚，一个点击测试板上的INTL点，通过GUI页面点击相应标志的mask（勾选此功能）触发； 测试结果:
| SN | Result(ms) | SPEC [ms] | Pass/Fail |
| RT | |||
| 200G QSFPDD PSM-001 | 4.751 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-002 | 11.694 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-003 | 1.999 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-004 | 23.544 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-005 | 20.112 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-006 | 21.189 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-007 | 10.854 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-008 | 19.793 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-009 | 21.309 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0010 | 17.917 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0011 | 18.795 | 100 | Pass |
测试图片:
1.11Mask Deassert Time
测试要求：需要测试的时间是光模块从各标志的掩码位集清除为0直到IntL中断由高变低的时间。
测试方法：光模块插入测试板中，使用示波器两个探头，一个接测试板上的SDA脚，一个点击测试板上的INTL点，通过GUI页面点击相应标志的mask（去掉勾选此功能）触发； 测试结果:
| SN | Result(ms) | SPEC [ms] | Pass/Fail |
| RT | |||
| 200G QSFPDD PSM-001 | 2.556 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-002 | 10.537 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-003 | 4.87 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-004 | 14.925 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-005 | 18.596 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-006 | 10.455 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-007 | 19.513 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-008 | 24.422 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-009 | 16.601 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0010 | 25.898 | 100 | Pass |
| 200G QSFPDD PSM-0011 | 19.952 | 100 | Pass |
测试图片:
2. I2C timing
2.1 100kHz
测试方法：用I2C管理工具将速率设置为100kHz，再读光模块进行I2C时序相关测试；
测试结果：
| Item(100KHz) | Result(us) | SPEC Min(us) |
SPEC Max(us) |
Pass/Fail |
| RT | ||||
| Clock Pulse Width Low | 5.004 | 4.7 | Pass | |
| Clock Pulse Width High |
4.525 | 4 | Pass | |
| START Hold Time | 5.483 | 4 | Pass | |
| START Set-up Time | 4.923 | 4.7 | Pass | |
| Data In Hold Time | 0.519 | 0 | Pass | |
| Data in Set-up Time |
4.352 | 0.25 | Pass | |
| STOP Set-up Time | 6.6 | 4 | Pass | |
| Input Rise Time | 0.48 | 0 | 1 | Pass |
| Input Fall Time | 0.16 | 0 | 0.3 | Pass |
测试图片 (100K):
Clock Frequency |
Clock Pulse Width Low |
Clock Pulse Width High |
START Hold Time |
START Set-up Time |
Data In Hold Time |
Data in Set-up Time |
Input Rise Time |
Input Fall Time |
STOP Set-up Time |
2.2 400kHz
测试方法：用I2C管理工具将速率设置为400kHz，再读光模块进行I2C时序相关测试；
测试结果：
| Item(100KHz) | Result(us) | SPEC Min(us) |
SPEC Max(us) |
Pass/Fail |
| RT | ||||
| Clock Pulse Width Low | 1.42 | 1.3 | Pass | |
| Clock Pulse Width High |
1.14 | 0.6 | Pass | |
| START Hold Time | 1.68 | 0.6 | Pass | |
| START Set-up Time | 1.76 | 0.6 | Pass | |
| Data In Hold Time | 0.68 | 0 | Pass | |
| Data in Set-up Time |
1 | 0.1 | Pass | |
| STOP Set-up Time | 1.95 | 0.6 | Pass | |
| Input Rise Time | 0.28 | 0 | 0.3 | Pass |
| Input Fall Time | 0.16 | 0 | 0.3 | Pass |
测试图片 (400K):
Clock Frequency |
Clock Pulse Width Low |
Clock Pulse Width High |
START Hold Time |
START Set-up Time |
Data In Hold Time |
Data in Set-up Time |
Input Rise Time |
Input Fall Time |
STOP Set-up Time |