如果光模块的光功率不良，就会使光模块性能下降，从而使传输误码率增加，在光模块的使用中，如何测试光功率保证光模块的最佳性能。光功率不良有6种现象，每种光功率不良现象对应的的原因是什么呢？
如何测试光模块的光功率？
当光输入功率在一定范围内时，光模块的性能最佳。 但是如何测试接收器是否会在最低光输入功率时，提供最佳性能呢？ 比较常用的一种测试方法就是利用光纤衰减器，测试，该过程包括如下所示的三个步骤。
1、使用功率计测量光纤发射器的光输出功率。工业标准定义了特定网络标准的发射器和接收器的光输入功率。使用的接收器和发射器需匹配，发射器的光输出功率应在规定范围内。
2、将发射器连接到接收器，并在发射器可提供的最大光输出功率下验证其是否正常工作。您需要以接收器可以接受的最小光输入功率测试接收器，同时接收器仍然提供最佳性能。
3、计算测试所需的衰减水平。计算方法：发射器的光输出功率为-15 dBm，接收器的最小光功率电平为-32 dBm。二者之间的差值为17 dB。那么就可以使用17 dB的光纤衰减器，并重新测试接收器。
测试光模块的光功率时，可能存在6种光功率不良的现象，每种光功率不良现象对应的的原因是什么呢？
现象一、光大
光大的意思是激光器偏置电流BIAS在正常范围之内，光功率超出了内部控制范围，不良原因及处理方法如下：
1、发射组件TOSA不良，处理方法是更换TOSA；
2、发射组件TOSA中，PD+管脚（背光电流脚）虚焊，处理方法是重新焊好PD+管脚；
3、功率电阻不匹配，处理方法是换大功率电阻。
与光大相反，光小指的是激光器偏置电流BIAS在正常范围之内，光功率低于内控范围。
1、发射组件TOSA不良，处理方法是更换TOSA；
2、驱动芯片贴片不良或性能不良，处理方法是重新贴好驱动芯片或者直接更换芯片；
3、功率电阻不匹配，处理方法是换小功率电阻。
这种无光现象分为两种情况，一是无光且BIAS值显示为0；另一种是无光，BIAS短路，数值很大显示为90mA～150mA之间，可以保存数据。
第一种情况：
1、发射组件TOSA中PD管脚虚焊，处理方法是重新焊好该管脚。
2、驱动芯片贴片不良或性能不良，处理方法是重新贴好驱动芯片或者直接更换芯片；
第二种情况：
1、发射组件TOSA中LD+管脚(信号脚)虚焊，处理方法是重新焊好该管脚。
2、LD+、LD-信号线路上的磁珠不良、漏贴或贴错。处理方法是贴好同一型号的磁珠。
3、驱动芯片贴片不良或性能不良。维修方法是重贴驱动芯片或更换芯片。
4、储存芯片引脚下的元器件(电容、电阻、电感或磁珠)不良、漏贴或贴错。处理方法是重新贴上同一型号的元器件。
与光大相反，光小指的是激光器偏置电流BIAS在正常范围之内，光功率低于内控范围。
1、TOSA不良，维修方法是更换TOSA。
2、TOSA管脚LD-(信号脚)虚焊，处理方法是焊好管脚。
一般情况下是TOSA不良，处理方法是更换TOSA。
激光器激发出某一波长的光，除了中心波长之外，不可避免的产生一个次波峰，最高波峰和次波峰的比值被称为边模抑制比。次波峰边模抑制比越大，说明最高波峰和次波峰的差距越大，次波峰对中心波长的影响越小。对于边模抑制比小的问题处理办法就是更换TOSA。